Zeta電位儀產(chǎn)品及廠家
js94k2m型zeta電位測量儀(微電泳儀)可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定顆粒的zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
更新時(shí)間:2025-05-14
js94j 型zeta電位測量儀(微電泳儀)可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定顆粒的zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
更新時(shí)間:2025-05-14
制電流是通過外部的直流電源向被保護(hù)金屬構(gòu)筑物通以陰極電流使之陰極極化實(shí)現(xiàn)保護(hù)的一種方法。一般恒電位儀用于制電流系統(tǒng)的電源設(shè)備，即恒電位式整流器，是一種自動(dòng)控制的整流器。
更新時(shí)間:2025-05-14
智能超聲波料位儀，是集光、電、聲相結(jié)合的測量儀器（簡稱料位儀），采用按鍵進(jìn)行查詢和設(shè)定，利用lcd進(jìn)行顯示。
更新時(shí)間:2025-05-14
導(dǎo)電塑料電位器 導(dǎo)電塑料電位儀 導(dǎo)電塑料電位裝置獨(dú)立線性精度：0.1%，0.3%，0.5%
更新時(shí)間:2025-05-14
本儀表適用于大、中、小水廠，物業(yè)公司用于水塔、水池、水庫的水位測量、控制、報(bào)警。本儀器采用工控單片機(jī)作為主控部件，智能化程度高，使用方便
更新時(shí)間:2025-05-14
zeta電位測定儀zetacad：是專門用多孔塞技術(shù)直接測定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2025-05-14
zeta cad表面zeta電位分析儀是專門用多孔塞技術(shù)直接測定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2025-05-14
膜zeta電位分析儀是門用多孔塞技術(shù)直接測定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀，該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品
更新時(shí)間:2025-05-14
litesizer™ 500 納米粒度及zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過測量動(dòng)態(tài)光散射 (dls)、電泳光散射 (els) 和靜態(tài)光散射 (sls) 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。
更新時(shí)間:2025-05-14
zetacompact®圖像法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2025-05-14
密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測量室底部。顯微電泳法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2025-05-14
zetacad固體表面zeta電位分析儀是直接測定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
更新時(shí)間:2025-05-14
液體介電常數(shù)測定儀是從純水到非極性有機(jī)溶劑的介電常數(shù)測定，英文名：liquid dielectric constant meter，操作極其簡單，只要將電極插入液體，并調(diào)節(jié)前面板上的兩個(gè)控制鈕， 即可讀出所顯示的介電常數(shù)值。
更新時(shí)間:2025-05-14
電聲法孔隙率及zeta電位分析儀基于電聲學(xué)原理，幾乎能夠應(yīng)用于所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng)，包括固體顆粒物、沉積物、多孔材料等。孔隙度的測量是基于我們的高頻電導(dǎo)探頭。包括巨石、地核、瓷磚、cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等
更新時(shí)間:2025-05-14
高濃體系zeta電位分析儀基于電聲法原理,利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒。無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測量，包括cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥，化妝品、藥物乳劑等
更新時(shí)間:2025-05-14
高分辨率納米粒度和zeta電位分析儀 基于動(dòng)態(tài)光散射（dls）和激光多普勒電泳（lde）技術(shù)，可提供高分辨率，準(zhǔn)確和快速的粒度和zeta電位測試及原位測試。
更新時(shí)間:2025-05-14
dt300/310粒度和zeta電位分析儀器采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的zeta 電位。對于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用其直接進(jìn)行測量。
更新時(shí)間:2025-05-14
包含dt-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
更新時(shí)間:2025-05-14
歐奇奧 sievecal篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測儀通過全計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序（sop）提供篩網(wǎng)表面的一個(gè)完整掃描。快速高分辨工業(yè)相機(jī), 結(jié)合遠(yuǎn)心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實(shí)時(shí)計(jì)算網(wǎng)孔大小和絲徑粗細(xì)。檢測結(jié)束后，將檢測報(bào)告打印或存儲(chǔ)在電腦中
更新時(shí)間:2025-05-14
津發(fā)公司是芬蘭neurone腦電及事件相關(guān)電位系統(tǒng)中國地區(qū)總代理商，負(fù)責(zé)該品牌產(chǎn)品的售前售后服務(wù)、以及學(xué)術(shù)交流。負(fù)責(zé)該品牌產(chǎn)品的售前售后服務(wù)、以及學(xué)術(shù)交流。外界刺激引起的心理活動(dòng)會(huì)產(chǎn)生微弱的腦電信號，通過對這些信號的研究可以了解我們的大腦是
更新時(shí)間:2025-05-14
zeta電位分析儀 研究對象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。 主要用途：測量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。
更新時(shí)間:2025-05-09
多孔固體孔隙率和表面電位分析儀wave 2305是安東帕中國儀器公司（quantachrome）根據(jù)全新的電聲孔徑分析法開發(fā)的、對樣品進(jìn)行無汞、非真空、無需高純氣快速測量的一款綠色環(huán)保的孔隙率和表面電位分析儀。
更新時(shí)間:2025-05-09
zetafinder zf400高濃度zeta電位分析儀 ，采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
更新時(shí)間:2025-05-08
chdf4000是基于光散原理的儀器，使用最新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布(psd)進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；chdf4000可提供完整范圍5納米至nm3微米，真實(shí)的psd數(shù)據(jù)；
更新時(shí)間:2025-05-08
zetaacoustic za500 電位分析儀，結(jié)合zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強(qiáng)，高的分辨率，免稀釋 zeta電位分析。mas應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅（esa）技術(shù)用于高百分比之固體 zeta 表面測量。mas將其獨(dú)特的專業(yè)知識應(yīng)用在 zeta 電位和粒度分析儀器的設(shè)計(jì)，使其成為 mas很強(qiáng)而有力的發(fā)明zeta電位量測儀。
更新時(shí)間:2025-05-08
采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
更新時(shí)間:2025-05-08
zeta電位分析儀zeta可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
更新時(shí)間:2025-05-08
zetafinder電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas納米粒度及zeta電位分析儀,可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
更新時(shí)間:2025-05-08
粒徑檢測分析儀美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。粒徑分析儀根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度
更新時(shí)間:2025-05-08
zeta電位測定 美國maszeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；
更新時(shí)間:2025-05-08
1)可進(jìn)行詳細(xì)的、絕對的粒度分析，不需要稀釋；2)不需要設(shè)置稀顆粒大小數(shù)據(jù)，aps可測量未稀釋的和/或不透明的樣品；3)更好的是，與其他粒度分析儀不同的是，你不必知道一個(gè)先驗(yàn)的或猜測的樣品粒度分布(psd)形狀；4)aps同時(shí)產(chǎn)生未稀釋的psd數(shù)據(jù)，聲衰減和聲音速度譜，固體含量，ph，電導(dǎo)率和溫度；
更新時(shí)間:2025-05-08
zeta-asp是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊揍，外置的zeta電位滴定裝置(可選配)自動(dòng)摘定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到最佳分散劑和絮凝劑
更新時(shí)間:2025-05-08
arepa 原液在線納米粒度儀，在線粒度測量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全(24 hours/7 days) 候運(yùn)作，無需移動(dòng)部件實(shí)時(shí)控制的快速測量 這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 cmp 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等，同時(shí)具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益。
更新時(shí)間:2025-05-08
該儀器可同時(shí)測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；自動(dòng)滴定法用于簡單的iep測量；
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度
更新時(shí)間:2025-05-08
電聲法zeta電位分析儀,樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；
更新時(shí)間:2025-05-08
超聲法原理粒度電聲法zeta電位分析儀可以檢測樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；
更新時(shí)間:2025-05-08
超聲法粒度zeta電位分析儀 美國maszeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量
更新時(shí)間:2025-05-08
美國maschdf3000-原液高濃度納米粒度儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆！?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動(dòng)/無人操作。所有組件都在個(gè)簡易單窗口界面控制和操作。
更新時(shí)間:2025-05-08
分餾法原液高分辨納米粒度儀毛細(xì)管流體分離（chdf）技術(shù)是種高分辨的粒度分布（psd）檢測技術(shù)。毛細(xì)管流體分離技術(shù)（chdf）用于測量粒徑在5nm-3μm 范圍內(nèi)膠體的粒度分布（psd）。
更新時(shí)間:2025-05-08
超聲電聲法zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas高分辨納米粒度zeta電位分析儀粒子分餾的真的 psd 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆！?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas粒度zeta電位分析儀可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mns公司超聲粒度儀系列主要由 zeta-aps,aps-100,zetafinder zf400,zetaacoustic za500,chdf-3000/4000組成，可以為各行業(yè)提供業(yè)的粒度和zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas公司研發(fā)的多功能超聲粒度分析儀系列產(chǎn)品，完美的解決了目市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學(xué)方法必須要對樣品進(jìn)行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 。
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas超聲粒度儀電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas超聲粒度儀和zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-05-08
美國mas超聲粒度分析儀，可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒。該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-05-08
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