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橢偏儀產(chǎn)品及廠家

SE-i 光譜橢偏儀

光譜橢偏儀

更新時(shí)間:2025-05-14

該公司產(chǎn)品分類：沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀se-glass 是一款針對(duì)玻璃蓋板行業(yè)定制的專用型光譜橢偏儀，針對(duì)玻璃蓋板光學(xué)鍍膜行業(yè)通過(guò)集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除透明基底背反測(cè)量定制開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)玻璃蓋板上多層薄膜物性表征分析。光譜橢偏儀se-glass 廣泛應(yīng)用于玻璃基底山減反膜、調(diào)光膜、導(dǎo)電膜等薄膜的膜厚，光學(xué)常數(shù)測(cè)量，完美適用于玻璃蓋板、光學(xué)薄膜等鍍膜檢測(cè)應(yīng)用。

更新時(shí)間:2025-05-14

該公司產(chǎn)品分類：沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司

檢測(cè)機(jī)全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái)，通過(guò)整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線/離線式整體橢偏測(cè)量解決方案。全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究中各種各向同性，異性薄膜材料的膜厚、光學(xué)常數(shù)以及一維、二維納米光柵的結(jié)構(gòu)表征；工業(yè)領(lǐng)域新型光電器件行業(yè)所涉及的薄膜（配向膜、光刻膠、ito、發(fā)光薄膜、封裝薄膜）全片離線化快速掃描測(cè)量。

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SE-Mapping光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-mapping光譜橢偏儀是一款可定制化mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)mapping測(cè)量模塊，通過(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測(cè)量表征分析。se-mapping光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用oled，led，光伏，集成電路等工業(yè)應(yīng)用中,實(shí)現(xiàn)大尺寸全基片膜厚、光學(xué)常數(shù)以及膜厚分布快速測(cè)量與表征。

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SE-L光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-l光譜橢偏儀是一款全自動(dòng)高精度光譜橢偏儀，集眾多科技專利技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)測(cè)量模塊。通過(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。se-l光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu)：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、pzt膜，激光二極管gan和algan、透明的電子器件、平板顯示、光伏太陽(yáng)能、功能性涂料、生物和化學(xué)工程、塊狀材料分析等領(lǐng)域。

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ME-L全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：me-l是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等�？蓱�(yīng)用于半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu)，半導(dǎo)體周期性納米結(jié)構(gòu)，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽(yáng)能，功能性涂料，生物和化學(xué)工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器(drc)配置一次測(cè)量全部穆勒矩陣16個(gè)元素；配置自動(dòng)變角器、五維樣件控制平臺(tái)等優(yōu)質(zhì)硬件模塊，軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O(shè)計(jì)，易上手、操作便捷；豐富的數(shù)據(jù)庫(kù)和幾何結(jié)構(gòu)模型庫(kù)，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力。

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SE-VM光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-vm 是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀�？赏ㄟ^(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測(cè)量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計(jì)。

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SE-VE光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：se-ve 是一款超高性價(jià)比、快速測(cè)量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡(jiǎn)便，可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。高性價(jià)比光學(xué)橢偏測(cè)量解決方案，緊湊集成化設(shè)計(jì)，極致用戶操作體驗(yàn)，一鍵快速測(cè)量分析，人機(jī)交互設(shè)計(jì)，使用便捷，豐富的數(shù)據(jù)庫(kù)和幾何結(jié)構(gòu)模型庫(kù)，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力，廣

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SE-i 光譜橢偏儀

SE-Glass光譜橢偏儀

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