元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售（u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board）
更新時(shí)間:2025-05-15
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spi測(cè)試，硬件測(cè)試服務(wù)，信號(hào)完整性測(cè)試，電源完整性測(cè)試
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元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（eda）中，從實(shí)際的元器件（如電阻、電容、晶體管等）或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過程。這一過程通常用于電路仿真，以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-05-15
邏輯電平輸出通道規(guī)格:(low voltage output for digital circuits) 電壓輸出范圍:2.5v ～ 6v 可編程;最小調(diào)整分辨率:0.01v
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-6500電路板測(cè)試儀是專為數(shù)字電路設(shè)計(jì)的解決方案，具有強(qiáng)大的測(cè)試能力和高度的靈活性，可以進(jìn)行全面的數(shù)字電路故障診斷。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi re1024電路板反求系統(tǒng)通過測(cè)試夾、連接器、測(cè)試鉤連接到被測(cè)板上的各個(gè)器件來實(shí)現(xiàn)。system8 ultimate控制軟件將自動(dòng)指導(dǎo)用戶在被反求電路周圍放置和移動(dòng)測(cè)試夾具，軟件將生成夾具組合次序和夾具移動(dòng)次序，以便反求到電路板上所有可能的連接關(guān)系。用戶也可以修改和重寫夾具的自動(dòng)放置、移動(dòng)次序。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi電路板維修檢測(cè)儀是專為測(cè)試模擬器件提供的解決方案。它能對(duì)電路板維修檢測(cè)中各種常見的模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試，它還具備檢測(cè)所有類型的模擬和數(shù)字組件的眾所周知的手段：非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù)。如用戶只需要后一項(xiàng)v-i曲線功能，請(qǐng)選擇abi-2400測(cè)試模塊。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_linearmaster手持模擬集成電路測(cè)試儀可測(cè)試16腳以內(nèi)通用的模擬器件,包括運(yùn)放,光耦,比較器,a/d,d/a,電壓調(diào)節(jié)器及部分特殊模擬芯片;軟件可升級(jí);可顯示元器件單個(gè)管腳的診斷信息;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí);配合compactlink軟件。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-3200電路板維修測(cè)試儀是abi-3400的簡(jiǎn)化版？稍陟o態(tài)（非加電）條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件，增加問題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_chipmaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀可測(cè)40腳以下的數(shù)字集成電路和存儲(chǔ)器,接口集成電路,mcu/mpu等;可識(shí)別無標(biāo)記或無法辨別的芯片或列出代換的芯片;可顯示具體某個(gè)腳的故障診斷信息;可進(jìn)行循環(huán)或有條件循環(huán)測(cè)試;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí)。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-2400電路板在線維修測(cè)試儀是abi-2500的簡(jiǎn)化版。主要具備非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù)，適合測(cè)試對(duì)電路板上各種類型的模擬和數(shù)字器件進(jìn)行在線維修測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_swa2048集成電路測(cè)試儀提供二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：2048路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路;集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-6400電路板檢測(cè)儀為用戶提供了所有通用數(shù)字集成電路（在線/離線）功能測(cè)試的能力。行業(yè)認(rèn)可的測(cè)試技術(shù)組合提供了高水平的故障覆蓋率。專用電路板檢測(cè)軟件提供了額外的工具，以進(jìn)一步加強(qiáng)該設(shè)備的廣泛應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_swa1024集成電路測(cè)試儀提供二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：1024路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：1024路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：1024路;集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_swa512集成電路測(cè)試儀具備二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：512路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：512路;集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
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英國abi-4400電路板測(cè)試專用矩陣開關(guān)具有16x16矩陣接口，提供256個(gè)交叉點(diǎn)，任何通道都可以連接，一次高達(dá)16個(gè)獨(dú)立通道。英國abi-4400矩陣開關(guān)還可以用作多路復(fù)用器或多路解復(fù)用器，是低到中等數(shù)量自動(dòng)化測(cè)試需求的經(jīng)濟(jì)替代方案。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi at256集成電路測(cè)試儀最大測(cè)試256管腳元器件;全類型,全品牌檢測(cè)各種類型的元器件,好壞對(duì)比測(cè)試方法:1)元器件之間對(duì)比;2)存儲(chǔ)對(duì)比測(cè)試;豐富可試的測(cè)試條件,測(cè)試條件:電壓,電阻,頻率,測(cè)試波形可調(diào)并組合條件測(cè)試;判定對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)可根據(jù)客戶需求設(shè)定;
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-3400電路板故障檢測(cè)儀可在靜態(tài)（非加電）條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件，增加問題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abibm8300電路板故障檢測(cè)儀具有功能特點(diǎn)：硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。軟件系統(tǒng)測(cè)試過程流程化設(shè)計(jì)，可以通過編程與非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程流程化；完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試，提高排故和測(cè)試效率。測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-bm8400電路板故障測(cè)試儀是一臺(tái)具有豐富測(cè)試功能且易于使用的電路板故障檢測(cè)儀. 它提供了多種電路板故障檢測(cè)功能, 適合對(duì)任何類型的電路板進(jìn)行維修檢測(cè)。英國abi-bm8400電路板故障檢測(cè)儀包括加電和非加電測(cè)試功能，為電路板測(cè)試工程師提供了強(qiáng)大的測(cè)試能力，隨設(shè)備附帶的免費(fèi)專用測(cè)控軟件功能強(qiáng)大，可實(shí)現(xiàn)電路板測(cè)試信息的采集、記錄和整合，電路板測(cè)試工作的量化管理、信息共享、測(cè)試過程的可回溯
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_at256 a4 pro4全品種集成電路篩選測(cè)試儀具備二維集成電路專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路;二維電路板專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路;三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路;集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件；
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi公司的bm8500是一款獨(dú)特的多功能且易于使用的電路板故障測(cè)試儀. 它提供了全面的電路板檢測(cè)功能, 幾乎含蓋了任何類型的電路板的檢測(cè)能力。無論在電路板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證, 生產(chǎn)測(cè)試, 半導(dǎo)體器件測(cè)試, 生產(chǎn)或是一般維修保養(yǎng), 以及你的電路板是模擬還是數(shù)字的, 或是混合型的電路板,。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi_at256 a4 pro2集成電路測(cè)試儀具備二維集成電路專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路;二維電路板專用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:128路;三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:128路集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選,一致性檢測(cè)；快速篩選假冒,仿制集成電路及元器件.
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-1200電路板檢測(cè)專用可編程電源是最新開發(fā)的最新最好的電源模塊。 這款usb驅(qū)動(dòng)的多功能電源在設(shè)計(jì)和制造方面集中了abi公司35年的卓越經(jīng)驗(yàn)，適用于各種測(cè)試和測(cè)量場(chǎng)景：從中小批量生產(chǎn)測(cè)試到預(yù)檢/維護(hù)和電路板故障排除等任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-05-15
英國abi-bm8600多功能電路板故障診斷工作站,硬件系統(tǒng)測(cè)試功能化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試功能和測(cè)試通道,軟件系統(tǒng)測(cè)試過程流程化設(shè)計(jì)，可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程流程化：保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程，提高排故和測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2025-05-15
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試;64通道v-i曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件);強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
更新時(shí)間:2025-05-15
產(chǎn)品體積小,重量輕,usb接口,適合攜帶;64路數(shù)字集成電路測(cè)試,64路v-i曲線測(cè)試,1路v-i探棒測(cè)試;
更新時(shí)間:2025-05-15
含模擬器件測(cè)試庫,可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試;測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
更新時(shí)間:2025-05-15
三維立體v-i-f曲線測(cè)試儀;變頻掃描v-i-f曲線測(cè)試儀;專業(yè)級(jí)v-i-f曲線測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-05-15
系統(tǒng)配有專用premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測(cè)試工作流程,記錄下測(cè)試者每一步的測(cè)試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
更新時(shí)間:2025-05-15
在bm-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無電源供給的情形下使用的vi曲線的測(cè)試功能.
更新時(shí)間:2025-05-15
集成電路及電路板的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能;數(shù)字及模擬集成電路的功能測(cè)試;動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測(cè)試;
更新時(shí)間:2025-05-15
采用無條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)管腳的診斷信息.
更新時(shí)間:2025-05-15
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