其他產(chǎn)品及廠家
lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器，F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應用項目，給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
更新時間:2025-05-16
產(chǎn)品用途：用來對各種加熱或制冷設(shè)備進行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時間:2025-05-16
kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號：explorer 7ch測量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測溫分辨率：0.1℃測溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1
更新時間:2025-05-16
jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水靈音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-05-16
jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2025-05-16
jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2025-05-16
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當先進技術(shù)，其聽音效果清晰、適合復雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準確定位泄漏點的位置。
更新時間:2025-05-16
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設(shè)計采用全金屬外殼，堅固耐用。
更新時間:2025-05-16
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當管道內(nèi)流體在壓力下逸出時，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質(zhì)傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2025-05-16
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水錄音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-05-16
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當某處破損泄漏時，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑ィ藭r用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號，通過主機進行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源
更新時間:2025-05-16
jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2025-05-16
揚州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質(zhì)上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進的集成性上。
更新時間:2025-05-16
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-05-16
原裝進口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場更換，功能強大，可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流，無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-05-16
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-05-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-05-16
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-05-16
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-16
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-05-16
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-05-16
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-05-16
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-05-16
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-16
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-05-16
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-05-16
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-05-16
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-05-16
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-05-16
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-05-16
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2025-05-16
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-05-16
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-16
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-16
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-16
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-16
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-05-16
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-16
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-16
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-16
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-05-16
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-05-16
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-05-16
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-05-16
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-05-16
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器，使用本儀器可以對不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進行質(zhì)量檢測。
更新時間:2025-05-15
qzy3816動態(tài)信號測試系統(tǒng)，常用于應力應變、振動（加速度、速度、位移）、沖擊、聲學、溫度（各種類型熱電偶、鉑電阻）、壓力、流量、力、扭矩、電壓、電流等各種物理量的測試，并在測得多種數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進行多種模式的數(shù)據(jù)分析。設(shè)備內(nèi)置大容量鋰電池，特別適合戶外工程測試。
更新時間:2025-05-15
最新產(chǎn)品
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