光學測量儀產品及廠家
yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)產品設計依據醫(yī)藥行業(yè)標準《yy 1081—2011醫(yī)用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
更新時間:2025-05-15
ecr900醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測儀依據“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內窺鏡 硬性內窺鏡 第1部分：光學性能及測試方法”標準的測試要求，用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內窺鏡的光學性能測試。適用于內窺鏡生產制造廠商對于產品的品控與設計驗證，檢測機構對于內窺鏡產品的質檢和監(jiān)督，科研院所對于內窺鏡的科學研究。
更新時間:2025-05-15
1、滿足標準：《yy 1081—2011醫(yī)用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設備用途：內窺鏡供給裝置冷光源檢測。
更新時間:2025-05-15
滿足標準：這是一款根據標準yy0843-2011研發(fā)生產的一款用于測試氣腹機氣壓、流量、顯示耗氣量準確性等性能的標準檢測設備。
更新時間:2025-05-15
滿足標準：該設備是根據yy/t 0113《牙科學 復合樹脂耐磨耗性能測試方法》標準要求設計的。設備用途：用于檢測牙科復合樹脂材料的磨耗性能。
更新時間:2025-05-15
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導致輪對與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測量儀是用來測量尖軌相對于基本軌的降低值以及心軌相對于翼軌的降低值的用儀器。
更新時間:2025-05-15
hyxj-1激光鐵路限界測量儀可對隧道限界、鐵路限界（如站臺、信號機、風雨棚等）、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對隧道位置等數(shù)據進行準確測量，也可快速的測量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺邊緣至機車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分斷面、單點限界。測量軟件并自動判斷是否超限，自動生成圖形和限界報表。
更新時間:2025-05-15
hyrs-5電子鋼軌平直度測量儀采用非接觸式的激光傳感器測量，可測量垂直和水平兩個方向的平順度情況，適用于測量鋼軌焊補、接頭以及絕緣軌接頭的平順度，還可以對鋼軌的垂直面的磨損程度進行評估。在測量過程中還可以采用重疊法，對鋼軌磨損的測量長度能夠超過設備本身的長度，不僅適用于對短距離波形范圍（0.03-0.3米）的鋼軌磨損情況評估，也適用于對長距離波形范圍（0.3-1米、1-3米、10米）的鋼軌磨損情
更新時間:2025-05-15
hypx-a準直儀或其他無縫線路位移觀測設備是一種門用于檢測無縫線路鋼軌位移變化量的測量裝置。采用光電對準技術等，能夠快速、精確、方便地測量鋼軌的位移變化。使用本產品進行無縫線路鋼軌位移量檢測時，僅在測量定位時需要簡單的操作步驟，降低了對操作者的技能要求，操作簡便，省時高效。
更新時間:2025-05-15
hyjc-s手推式接觸網幾何參數(shù)智能檢查儀 是用于測量鐵路接觸網各項幾何參數(shù)的多功能、多用途、一體化、全自動化的產品。采用區(qū)別于激光雷達的光電技術，實現(xiàn)在軌道上單人手推儀器、自動測量計算、實時顯示及對比、自動記錄數(shù)據、波形圖及超限情況（報警）的高效測量模式，同時實現(xiàn)數(shù)據圖表化輸出和歷史數(shù)據對比的高效數(shù)據分析，有效的降低了人員勞動強度、提升了測量穩(wěn)定性及工作效率，科學有效地指導接觸網的維護。
更新時間:2025-05-15
hyxj-3全自動站臺限界測量儀是一種采用區(qū)別于激光點及激光雷達的電子傳感器系統(tǒng)、激光成像系統(tǒng)、計算機處理系統(tǒng)等進行全斷面限界檢測的儀器。采用手推式非接觸動態(tài)檢測小車的測量方式，由人工推著在軌道上行走，儀器自動測量所有限界數(shù)據（水平限界、高度限界、站臺輪廓、風雨棚高度、水平超高等），曲線段自動計算和測量。軟件系統(tǒng)實時完成限界檢測、數(shù)據采集、數(shù)據分析處理和顯示及超限判斷，生成檢測報表。
更新時間:2025-05-15
寧波萬濠二次元影像儀vms-3020f產品：該儀器適用于以二維坐標測量為目的的一切應用領域，在玻璃、機械、電子、儀表、塑料等行業(yè)被廣泛使用.有多種形式光源，保證滿足多樣性測量要求。軟件輔助調光，便于使用者知道是否過度飽和。激光指示器專利技術方便對焦和定位，可實現(xiàn)度度輔助測量。
更新時間:2025-05-15
廣東萬濠數(shù)字式測量投影儀廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業(yè)以及院樣、研究所、計量檢定部門、本儀器如樣板．沖壓件．凸輪．螺紋．齒輪．成型銑刀等工件檢測
更新時間:2025-05-15
標準型全自動影像測量儀是一種用于精密測量的光學儀器，它融合了光學成像、機械運動控制、圖像處理以及計算機軟件等多種技術，在工業(yè)制造、電子、汽車、模具等眾多領域有著廣泛的應用
更新時間:2025-05-14
光學螺紋測試儀 新品上市！cordinspect光學螺紋綜合測試儀用于非接觸式（光學）測量螺柱和外螺紋工件，它可以精測量螺紋大徑、中徑、小徑、螺距和牙型角，測量范圍3mm-16mm 特性：遠程led傳輸光測量范圍從3到16mm適用于車間使用也適用于長工件的測量電機驅動旋轉工作臺
更新時間:2025-05-14
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-05-14
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時間:2025-05-14
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時間:2025-05-14
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-05-14
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-05-14
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-05-14
sensol是sentech光伏產品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產的時間。
更新時間:2025-05-14
senperc pv 是perc電池制造質量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護時間間隔。
更新時間:2025-05-14
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
更新時間:2025-05-14
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據通信。
更新時間:2025-05-14
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-05-14
便捷和智能的緊湊型testo 510i無線迷你差壓測量儀 結合專業(yè)的測量技術和智能手機操作，用于測量壓差、空氣流速和體積流量。測量讀數(shù)可以通過smart probe app，方便地在智能手機/平板電腦上進行查看，并通過電子郵件直接發(fā)送。
更新時間:2025-05-14
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-05-14
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-05-14
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-05-14
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-05-14
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-05-14
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-05-14
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-05-14
美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內領先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-05-14
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-05-14
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-05-14
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-05-14
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-05-14
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-05-14
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-05-14
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-05-14
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-05-14
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-05-14
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-05-14
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-05-14
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-05-14
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