光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
1、滿足標(biāo)準(zhǔn)：《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設(shè)備用途：內(nèi)窺鏡供給裝置冷光源檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-05-15
滿足標(biāo)準(zhǔn)：這是一款根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy0843-2011研發(fā)生產(chǎn)的一款用于測(cè)試氣腹機(jī)氣壓、流量、顯示耗氣量準(zhǔn)確性等性能的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-05-15
滿足標(biāo)準(zhǔn)：該設(shè)備是根據(jù)yy/t 0113《牙科學(xué) 復(fù)合樹脂耐磨耗性能測(cè)試方法》標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的。設(shè)備用途：用于檢測(cè)牙科復(fù)合樹脂材料的磨耗性能。
更新時(shí)間:2025-05-15
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導(dǎo)致輪對(duì)與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x是用來測(cè)量尖軌相對(duì)于基本軌的降低值以及心軌相對(duì)于翼軌的降低值的用儀器。
更新時(shí)間:2025-05-15
hyxj-1激光鐵路限界測(cè)量?jī)x可對(duì)隧道限界、鐵路限界（如站臺(tái)、信號(hào)機(jī)、風(fēng)雨棚等）、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對(duì)隧道位置等數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，也可快速的測(cè)量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺(tái)及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺(tái)邊緣至機(jī)車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分?jǐn)嗝妗吸c(diǎn)限界。測(cè)量軟件并自動(dòng)判斷是否超限，自動(dòng)生成圖形和限界報(bào)表。
更新時(shí)間:2025-05-15
hyrs-5電子鋼軌平直度測(cè)量?jī)x采用非接觸式的激光傳感器測(cè)量，可測(cè)量垂直和水平兩個(gè)方向的平順度情況，適用于測(cè)量鋼軌焊補(bǔ)、接頭以及絕緣軌接頭的平順度，還可以對(duì)鋼軌的垂直面的磨損程度進(jìn)行評(píng)估。在測(cè)量過程中還可以采用重疊法，對(duì)鋼軌磨損的測(cè)量長(zhǎng)度能夠超過設(shè)備本身的長(zhǎng)度，不僅適用于對(duì)短距離波形范圍（0.03-0.3米）的鋼軌磨損情況評(píng)估，也適用于對(duì)長(zhǎng)距離波形范圍（0.3-1米、1-3米、10米）的鋼軌磨損情
更新時(shí)間:2025-05-15
hypx-a準(zhǔn)直儀或其他無(wú)縫線路位移觀測(cè)設(shè)備是一種門用于檢測(cè)無(wú)縫線路鋼軌位移變化量的測(cè)量裝置。采用光電對(duì)準(zhǔn)技術(shù)等，能夠快速、精確、方便地測(cè)量鋼軌的位移變化。使用本產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)縫線路鋼軌位移量檢測(cè)時(shí)，僅在測(cè)量定位時(shí)需要簡(jiǎn)單的操作步驟，降低了對(duì)操作者的技能要求，操作簡(jiǎn)便，省時(shí)高效。
更新時(shí)間:2025-05-15
hyjc-s手推式接觸網(wǎng)幾何參數(shù)智能檢查儀 是用于測(cè)量鐵路接觸網(wǎng)各項(xiàng)幾何參數(shù)的多功能、多用途、一體化、全自動(dòng)化的產(chǎn)品。采用區(qū)別于激光雷達(dá)的光電技術(shù)，實(shí)現(xiàn)在軌道上單人手推儀器、自動(dòng)測(cè)量計(jì)算、實(shí)時(shí)顯示及對(duì)比、自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)、波形圖及超限情況（報(bào)警）的高效測(cè)量模式，同時(shí)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)圖表化輸出和歷史數(shù)據(jù)對(duì)比的高效數(shù)據(jù)分析，有效的降低了人員勞動(dòng)強(qiáng)度、提升了測(cè)量穩(wěn)定性及工作效率，科學(xué)有效地指導(dǎo)接觸網(wǎng)的維護(hù)。
更新時(shí)間:2025-05-15
hyxj-3全自動(dòng)站臺(tái)限界測(cè)量?jī)x是一種采用區(qū)別于激光點(diǎn)及激光雷達(dá)的電子傳感器系統(tǒng)、激光成像系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)等進(jìn)行全斷面限界檢測(cè)的儀器。采用手推式非接觸動(dòng)態(tài)檢測(cè)小車的測(cè)量方式，由人工推著在軌道上行走，儀器自動(dòng)測(cè)量所有限界數(shù)據(jù)（水平限界、高度限界、站臺(tái)輪廓、風(fēng)雨棚高度、水平超高等），曲線段自動(dòng)計(jì)算和測(cè)量。軟件系統(tǒng)實(shí)時(shí)完成限界檢測(cè)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析處理和顯示及超限判斷，生成檢測(cè)報(bào)表。
更新時(shí)間:2025-05-15
寧波萬(wàn)濠二次元影像儀vms-3020f產(chǎn)品：該儀器適用于以二維坐標(biāo)測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域，在玻璃、機(jī)械、電子、儀表、塑料等行業(yè)被廣泛使用.有多種形式光源，保證滿足多樣性測(cè)量要求。軟件輔助調(diào)光，便于使用者知道是否過度飽和。激光指示器專利技術(shù)方便對(duì)焦和定位，可實(shí)現(xiàn)度度輔助測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-05-15
廣東萬(wàn)濠數(shù)字式測(cè)量投影儀廣泛用于機(jī)械、儀表、電子、輕工等行業(yè)以及院樣、研究所、計(jì)量檢定部門、本儀器如樣板．沖壓件．凸輪．螺紋．齒輪．成型銑刀等工件檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-05-15
標(biāo)準(zhǔn)型全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x是一種用于精密測(cè)量的光學(xué)儀器，它融合了光學(xué)成像、機(jī)械運(yùn)動(dòng)控制、圖像處理以及計(jì)算機(jī)軟件等多種技術(shù)，在工業(yè)制造、電子、汽車、模具等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用
更新時(shí)間:2025-05-14
光學(xué)螺紋測(cè)試儀 新品上市！cordinspect光學(xué)螺紋綜合測(cè)試儀用于非接觸式（光學(xué)）測(cè)量螺柱和外螺紋工件，它可以精測(cè)量螺紋大徑、中徑、小徑、螺距和牙型角，測(cè)量范圍3mm-16mm 特性：遠(yuǎn)程led傳輸光測(cè)量范圍從3到16mm適用于車間使用也適用于長(zhǎng)工件的測(cè)量電機(jī)驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)
更新時(shí)間:2025-05-14
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針反射儀臺(tái)式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案，它具有非？焖俚暮穸葴y(cè)量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測(cè)量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-05-14
ftpadv expert 綜合薄膜測(cè)量軟件，光譜反射測(cè)量軟件ftpadv expert是專門為測(cè)量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測(cè)量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-05-14
mdpinline 光伏測(cè)量?jī)x器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率定量測(cè)量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-05-14
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-05-14
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無(wú)觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-05-14
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-05-14
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品？蛇x的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-05-14
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-05-14
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-05-14
便捷和智能的緊湊型testo 510i無(wú)線迷你差壓測(cè)量?jī)x 結(jié)合專業(yè)的測(cè)量技術(shù)和智能手機(jī)操作，用于測(cè)量壓差、空氣流速和體積流量。測(cè)量讀數(shù)可以通過smart probe app，方便地在智能手機(jī)/平板電腦上進(jìn)行查看，并通過電子郵件直接發(fā)送。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-05-14
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時(shí)間:2025-05-14
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
更新時(shí)間:2025-05-14
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-05-14
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1，是專門針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-05-14
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-05-14
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2025-05-14
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2025-05-14
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-05-14
美國(guó) sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無(wú)需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時(shí)間:2025-05-14
德國(guó)bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無(wú)破壞性，不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2025-05-14
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2025-05-14
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